可控硅完好与否怎么测量?图解测量极间电阻法

2019-12-30 22:59:32 利汇自动化 31

  利汇自动化专注于红外温度传感器、可控硅、功率控制器及电工仪表的研发与制造,今天,我们为您详细阐述可控硅的完好与否应该怎样检测,测量极间电阻的方法,图文共赏,建议收藏。

  普通的二极管的检测(主要包含的是整流二极管、检波二极管、开关二极管、阻尼二极管、续流二极管等)是由一个PN结构成的半导体器件,具备了单相导电的特性,通过万用表检测它的整想跟反向电阻值,就能够判断出二极管的电机,还能够估计出二极管是否发生了损坏,所以,利汇自动化推荐使用万用表检测可控二极管的方法主要有以下三种:


  第一种:测量极间电阻法

  将万用表至于PR*1k档位,如果测得T1-T2、T2-G之间的正反向电阻接近∞,但万用表至于R*10档测得T1-G之间的正反向电阻在几十欧姆值的时候,就说明双向可控硅是完好无损的,可以正常使用,如果不是,那就有下面两种情况:

  1、如果测得T1-G之间的蒸饭箱电阻很大的时候,接近∞,说明控极G跟主电极T1之间的开路有损坏或接触不良,不能使用;

  2、如果侧的T2-T1、T2-G之间的正反向电阻比较小,甚至等于0,而T1-G之间的正反向电阻很小或者接近0的时候,说明双向可控硅的性能击穿损坏,亦不能使用;


  第二种方法:检查触发导通能力

  万用表至于R*10当,正如下图中1(a)所示,用黑标笔接主电极T2,红表笔接T1,也就是给T2加正向电压,再使用短路线将G跟T1短接一下然后离开,如果表头指针发生了比较大的偏转并且停留在固定位置,说明双向可控硅中的一部分是好的,如果是像图1(b)所示那样,改黑表笔接主电极T1,红表笔接T2,也就是给T1加正向电压,再用短路线将G跟T1短接一下离开,如果结论跟以上相同,也证明双向可控硅中的另一部分能够触发导通;


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  图1判断双向可控硅的触发导通能力


  第三种方法:检查触发导通能力

  就像图2一样,选一只10uf左右的电解电容器,将万用表至于R*10K档(V电压),对电解电容器充电三至五秒之后用来代替图1种的短路线,也就是利用电容器上所冲的电压作为触发信号,然后在使用万用表至于R*10档,按照图2B连接好之后进行测试,在测试的时候,电容C的极性能够任意连接,同样是触碰一下就离开,观察表头指针的偏转情况,如果测试结果跟方法二相同,就证明双向可控硅是完好无损的;


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  图2判断双向可控硅的触发导通能力


  用这个方法判断双向可控硅的触发导通能力比较靠谱,因为电解电容器上冲的电压比较高,让触发的信号增加,更加有利于判断大功率双向可控硅的触发能力;

  以上便是可控硅完好与否的检测方法,希望能够对您有所帮助,利汇自动化专注可控硅功率控制器的研发与制造销售,如果您有相关的产品需求,欢迎您致电利汇,我们将竭诚为您服务。

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