可控硅完好与否怎么测量？图解测量极间电阻法

　　利汇自动化专注于红外温度传感器、可控硅、功率控制器及电工仪表的研发与制造，今天，我们为您详细阐述可控硅的完好与否应该怎样检测，测量极间电阻的方法，图文共赏，建议收藏。

　　普通的二极管的检测（主要包含的是整流二极管、检波二极管、开关二极管、阻尼二极管、续流二极管等）是由一个PN结构成的半导体器件，具备了单相导电的特性，通过万用表检测它的整想跟反向电阻值，就能够判断出二极管的电机，还能够估计出二极管是否发生了损坏，所以，利汇自动化推荐使用万用表检测可控二极管的方法主要有以下三种：

　　第一种：测量极间电阻法

　　将万用表至于PR*1k档位，如果测得T1-T2、T2-G之间的正反向电阻接近∞，但万用表至于R*10档测得T1-G之间的正反向电阻在几十欧姆值的时候，就说明双向可控硅是完好无损的，可以正常使用，如果不是，那就有下面两种情况：

　　1、如果测得T1-G之间的蒸饭箱电阻很大的时候，接近∞，说明控极G跟主电极T1之间的开路有损坏或接触不良，不能使用；

　　2、如果侧的T2-T1、T2-G之间的正反向电阻比较小，甚至等于0，而T1-G之间的正反向电阻很小或者接近0的时候，说明双向可控硅的性能击穿损坏，亦不能使用；

　　第二种方法：检查触发导通能力

　　万用表至于R*10当，正如下图中1（a）所示，用黑标笔接主电极T2，红表笔接T1，也就是给T2加正向电压，再使用短路线将G跟T1短接一下然后离开，如果表头指针发生了比较大的偏转并且停留在固定位置，说明双向可控硅中的一部分是好的，如果是像图1（b）所示那样，改黑表笔接主电极T1，红表笔接T2，也就是给T1加正向电压，再用短路线将G跟T1短接一下离开，如果结论跟以上相同，也证明双向可控硅中的另一部分能够触发导通；

　　图1判断双向可控硅的触发导通能力

　　第三种方法：检查触发导通能力

　　就像图2一样，选一只10uf左右的电解电容器，将万用表至于R*10K档（V电压），对电解电容器充电三至五秒之后用来代替图1种的短路线，也就是利用电容器上所冲的电压作为触发信号，然后在使用万用表至于R*10档，按照图2B连接好之后进行测试，在测试的时候，电容C的极性能够任意连接，同样是触碰一下就离开，观察表头指针的偏转情况，如果测试结果跟方法二相同，就证明双向可控硅是完好无损的；

　　图2判断双向可控硅的触发导通能力

　　用这个方法判断双向可控硅的触发导通能力比较靠谱，因为电解电容器上冲的电压比较高，让触发的信号增加，更加有利于判断大功率双向可控硅的触发能力；

　　以上便是可控硅完好与否的检测方法，希望能够对您有所帮助，利汇自动化专注可控硅功率控制器的研发与制造销售，如果您有相关的产品需求，欢迎您致电利汇，我们将竭诚为您服务。